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文物檢測(cè)新方法!
點(diǎn)擊次數(shù):3434 發(fā)布時(shí)間:2016-10-08
文物CT檢測(cè)掃描分析系統(tǒng)
文物CT檢測(cè)掃描分析系統(tǒng)主要分為高能量CT和微焦點(diǎn)CT。CT是基于計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù),對(duì)文物進(jìn)行2D,3D檢測(cè)。
其應(yīng)用主要有六個(gè)方面:
●對(duì)文物內(nèi)部結(jié)構(gòu)及形貌進(jìn)行無損掃描并分析;
●對(duì)文物的起源,制作工藝、產(chǎn)地和用途提供重要信息;
●對(duì)文物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及尺寸進(jìn)行二維、三維的測(cè)量;
●對(duì)文物的穿孔內(nèi)壁,鑲嵌加工痕跡數(shù)據(jù)分析,及數(shù)據(jù)庫的建立;
●高精度獲取與解讀文物的三維信息,并可實(shí)現(xiàn)逆向工程;
●相位成像功能。
文物CT檢測(cè)掃描分析系統(tǒng)相對(duì)優(yōu)勢(shì):
●開放式微焦點(diǎn)射線管,分辨率高,檢測(cè)更。
●設(shè)備設(shè)計(jì)緊湊,配置靈活,可滿足客戶多種要求。
●運(yùn)行穩(wěn)定,安全可靠。
●掃描速度快,圖像重建速度快。