圖像實(shí)際不清晰度U與圖像綜合不清晰度U0有關(guān)，圖像不清晰度受設(shè)備系統(tǒng)不清晰度(又稱設(shè)備固有不清晰度)Us和幾何不清晰度Ug以及移動(dòng)不清晰度Ur三大因素的綜合影響，但它們之間不是簡(jiǎn)單的算術(shù)和的關(guān)系，根據(jù)英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)介紹，圖像綜合不清晰度與三者之間是立方與立方和的關(guān)系，即：U03=Us3＋Ug3＋Ur3，當(dāng)采集靜止圖像時(shí)，Ur=0，則U03=Us3＋Ug3。設(shè)備系統(tǒng)不清晰度Us是設(shè)備本身固有的，可通過(guò)圖像測(cè)試卡在系統(tǒng)中直接測(cè)出。幾何不清晰度與成像時(shí)的幾何參數(shù)有關(guān)，根據(jù)射線投影成像原理和圖2所示，實(shí)時(shí)成像中幾何不清晰度Ug與放大倍數(shù)M的關(guān)系是：Ug=(d•L2)/L1=d(M-1)，d為X射線機(jī)的焦點(diǎn)尺寸，mm。若已知焦點(diǎn)尺寸d和放大倍數(shù)M，便可算出幾何不清晰度Ug，從而算出圖像綜合不清晰度U0。

　　圖像放大后，圖像中一些原來(lái)不易分辨的細(xì)小影像也被放大而變得容易分辨，有利于細(xì)小缺陷的識(shí)別，圖像不清晰的程度得到改善，圖像質(zhì)量得到明顯的提高。圖像不清晰度改善的程度可以用“圖像的綜合分辨率被放大了M倍或圖像的綜合不清晰度被縮小了M倍”來(lái)表述：U=U0/M。

　　然而，圖像放大也有一個(gè)適度問(wèn)題，放大倍數(shù)過(guò)大，反而會(huì)降低靈敏度，這是因?yàn)殡S著放大倍數(shù)的增大，幾何不清晰度也隨之增大，會(huì)使影像的邊界變得模糊。另外，放大倍數(shù)過(guò)大也會(huì)使圖像實(shí)際檢測(cè)長(zhǎng)度減小，也是不經(jīng)濟(jì)的，因此就有一個(gè)最佳放大倍數(shù)和最小缺陷檢出尺寸的問(wèn)題。根據(jù)美國(guó)ASMEE1000-88標(biāo)準(zhǔn)，圖像檢測(cè)的最佳放大倍數(shù)Mopt為：Mopt=1+(Us/d)3/2，圖像可檢測(cè)出的最小缺陷尺寸dmin為：dmin=Us/M2/3。

　　成像工藝之工藝試驗(yàn)與工藝評(píng)定

　　X射線數(shù)字成像在正式使用前應(yīng)進(jìn)行工藝試驗(yàn)和工藝評(píng)定，以確定工藝的有效性和穩(wěn)定性。由于X射線數(shù)字成像是一項(xiàng)新技術(shù)，實(shí)時(shí)成像工藝與膠片照相工藝有許多不同，只有經(jīng)過(guò)多次的工藝試驗(yàn)才能尋找到較佳工藝參數(shù)，尤其是對(duì)于初次接觸X射線實(shí)時(shí)成像方法的人員來(lái)說(shuō)，多做工藝試驗(yàn)是十分必要的。通過(guò)工藝試驗(yàn)，以確定各工藝因素之間的相互關(guān)系。這里講的工藝因素主要有：X射線機(jī)管電壓、管電流、成像距離(L1、L2)、放大倍數(shù)、散射線屏蔽、低能射線過(guò)濾等。由于需要試驗(yàn)的工藝因素較多，正交試驗(yàn)法是一種較有效的試驗(yàn)方法。工藝評(píng)定是X射線數(shù)字成像時(shí)投入使用之前的重要環(huán)節(jié)，工藝評(píng)定是以圖像質(zhì)量指標(biāo)來(lái)評(píng)定工藝試驗(yàn)所確定的工藝參數(shù)的有效性。工藝評(píng)定應(yīng)有記錄和評(píng)定報(bào)告，以備查核。當(dāng)工藝條件改變之后，應(yīng)重新進(jìn)行工藝評(píng)定。

　　對(duì)比試驗(yàn)

　　工藝評(píng)定合格之后，要進(jìn)行X射線數(shù)字成像與膠片照相法的焊縫缺陷檢出能力的對(duì)比試驗(yàn)。對(duì)比試驗(yàn)的方法是制作一定數(shù)量并含有各種常見(jiàn)焊接缺陷的試件，用兩種方法各自對(duì)標(biāo)樣進(jìn)行探傷比較。對(duì)比試驗(yàn)的作用是培訓(xùn)操作人員和評(píng)定人員，圖像評(píng)定人員對(duì)照檢測(cè)圖像和照相底片，逐漸熟悉掌握?qǐng)D像中焊縫缺陷的特征和評(píng)定方法，取得經(jīng)驗(yàn)后才能獨(dú)立地進(jìn)行圖像評(píng)定工作。

　　透照方式

　　X射線數(shù)字成像的透照方式與膠片照相方法基本相同，同樣有縱縫外透法、內(nèi)透法，環(huán)縫外透法、內(nèi)透法，雙壁單影法和雙壁雙影法。例如，透照筒體焊縫時(shí),可將圖像增強(qiáng)器(或X射線機(jī))固定在筒體外，X射線管頭（或圖像增強(qiáng)器）固定在懸臂上，筒體放在電動(dòng)小車(chē)上，懸臂伸進(jìn)筒體內(nèi)，筒體隨小車(chē)按規(guī)定的等分轉(zhuǎn)動(dòng)或按等距離移動(dòng)，即可對(duì)環(huán)縫或縱縫進(jìn)行連續(xù)檢測(cè)。雙壁透照時(shí)，由于工件不可緊靠近圖像增強(qiáng)器，所以，以后側(cè)焊縫還是前側(cè)焊縫為檢測(cè)焊縫就顯得不那么重要，這一點(diǎn)是與膠片照相方法是不同的。

　　散射線的屏蔽

　　無(wú)用射線和散射線對(duì)圖像質(zhì)量有負(fù)影響作用，應(yīng)加于屏蔽。屏蔽的方法與膠片照相法基本相同。

　　圖像的觀察

　　為了適應(yīng)評(píng)定人員的評(píng)片習(xí)慣，圖像可以正像或負(fù)像方式顯示，兩種顯示方式是等效的，彩色顯示對(duì)于分析微小缺陷有明顯的分辨作用。