X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料，并由于材料對(duì)射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，于是在底片上形成黑度不同的影像，據(jù)此來判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗(yàn)方法。

　　X射線能在無損檢驗(yàn)技術(shù)中得到廣泛應(yīng)用的主要原因是：X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料，并由于材料對(duì)射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，于是在底片上形成黑度不同的影像，據(jù)此來判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗(yàn)方法。

　　X射線探傷原理

　　X射線探傷是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性，發(fā)現(xiàn)缺陷的一種無損檢測方法。

　　X射線的波長很短一般為0.001～0.1nm。

　　X射線以光速直線傳播，不受電場和磁場的影響，可穿透物質(zhì)，在穿透過程中有衰減，能使膠片感光。

　　當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時(shí)，由于射線與物質(zhì)的相互作用，將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過程，其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量，強(qiáng)度相應(yīng)減弱，這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。

　　X射線探傷的實(shí)質(zhì)是根據(jù)被檢驗(yàn)工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對(duì)射線能量衰減程度不同，而引起射線透過工件后強(qiáng)度差異，使感光材料（膠片）上獲得缺陷投影所產(chǎn)生的潛影，經(jīng)過暗室處理后獲得缺陷影像，再對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定工件內(nèi)部缺陷的性質(zhì)和底片級(jí)別。

　　設(shè)備

　　(1)射線源

　　X射線機(jī)是X射線探傷的主要設(shè)備。國產(chǎn)X射線探傷機(jī)已系列化，分為移動(dòng)式和便攜式兩大類

　　(2)射線膠片

　　X射線膠片是一種片基兩面均涂有結(jié)合層、乳劑層和保護(hù)層的專用膠片。一般按照乳劑中銀鹽顆粒度由小到大的順序?qū)⒛z片分為J1,J2,J3三種。

　　銀鹽粒度越小缺陷影像越真切，但感光速度變慢，曝光量會(huì)成倍增加。

　　因此，只有目的在于檢測細(xì)小裂紋等缺陷時(shí)才選用微?；虺⒘５哪z片。一般要求的選用J3級(jí)膠片用于感光速度快，照相質(zhì)量要求不高的情況。鍋爐壓力容器選擇J2膠片。

　　(3)增感屏

　　射線膠片對(duì)射線的吸收率是很低的，一般只能吸收射線強(qiáng)度的1%，其余絕大部分射線穿過膠片而損失掉，這將使透照時(shí)間大大延長。為了提高膠片的感光速度，縮短曝光時(shí)間，通常在膠片兩側(cè)夾以增感屏。

　　金屬增感屏是由金屬箔粘合在紙基或膠片基上制成。

　　金屬增感屏有前后屏之分，與射線膠片緊密接觸，布置在先于膠片接受射線照射者稱前屏，后于膠片接受射線照射者稱后屏。增感屏被射線透射后可產(chǎn)生二次電子和二次射線，增加對(duì)膠片的感光作用。

　　同時(shí)它對(duì)波長較長的散射線又有吸收作用（又稱濾波作用），減小散射線引起的灰霧度，提高了底片的成像質(zhì)量。

　　(4)線型像質(zhì)計(jì)

　　像質(zhì)計(jì)是用來檢查透照技術(shù)和膠片處理質(zhì)量的。

　　衡量該質(zhì)量的數(shù)值是像質(zhì)指數(shù)，它等于底片上能識(shí)別出的最細(xì)鋼絲線的編號(hào)。

　　使用線型像質(zhì)計(jì)時(shí)要注意以下幾方面：

　　1)線型像質(zhì)計(jì)應(yīng)放在射線源一側(cè)的工件表面被檢焊縫區(qū)長度1/4處，鋼絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫軸線垂直，細(xì)鋼絲置于外側(cè)。

　　當(dāng)射線源一側(cè)無法放置像質(zhì)計(jì)時(shí)，也可放在膠片一側(cè)的工件表面上，但應(yīng)通過對(duì)比試驗(yàn)，使實(shí)際像質(zhì)指數(shù)值達(dá)到規(guī)定的要求。

　　2)像質(zhì)計(jì)放在膠片一側(cè)工件表面上時(shí)，象質(zhì)計(jì)應(yīng)附加“F”標(biāo)記，以示區(qū)別。

　　3)采用射線源置于圓心位置的周向曝光技術(shù)時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放在內(nèi)壁，每隔90°放一個(gè)。

　　另外，射線探傷系統(tǒng)的組成還包括鉛罩、鉛光闌、鉛遮板、底部鉛板、暗盒、標(biāo)記帶，其中標(biāo)記帶可使每張射線底片與工件被檢部位能始終對(duì)照。

　　方法

　　射線探傷除照相法外，還有X射線熒光屏觀察法、電視觀察法。

　　X射線照相法

　　這種方法是用感光膠片代替熒光觀察法的熒光屏，當(dāng)膠片被X射線照射而感光后，復(fù)經(jīng)顯影，即可顯現(xiàn)出不同的感光程度。

　　若射線的強(qiáng)度越大，則膠片的感光越多，顯影后的黑度就越大。

　　當(dāng)某處與周圍對(duì)比的黑度較大時(shí)，則可確認(rèn)存在缺陷。照相法的靈敏度高、適應(yīng)性強(qiáng)，同時(shí)膠片可長期保存待查。但程序較多、費(fèi)時(shí)、成本較高。

　　X射線熒光屏觀察法

　　X射線透過被檢查物體后，把不同強(qiáng)度的射線，再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上，激發(fā)出不同強(qiáng)度的熒光而得到物體的影像。

　　如果我們能直接從熒光屏上觀察缺陷影像，就稱為X射線熒光屏觀察法。

　　熒光屏觀察法與照相法的不同點(diǎn)：

　　熒光屏上所看到的缺陷影像是發(fā)亮的，而在底片上見到的缺陷影像是暗黑的；

　　前者不用暗室處理，因而暗室處理影響其影像質(zhì)量的因素不存在，但其它因素與照相法同；

　　熒光屏上的熒光物質(zhì)與照相法中增感屏上的熒光物質(zhì)不同，它要求這種物質(zhì)所發(fā)熒光對(duì)人的眼睛。

　　熒光屏觀察法能對(duì)工件連續(xù)檢查，并能迅速得出結(jié)果。

　　因此能節(jié)省大量的軟片與工時(shí)，成本低。但是，熒光屏觀察法的靈敏度要低一些。

　　由于它不能像照相法那樣把射線的能量積累起來，它只能檢查較薄的結(jié)構(gòu)簡單的工件。

　　熒光屏觀察法所用的設(shè)備是X射線發(fā)生器及其控制設(shè)備；熒光觀察屏；觀察和記錄用的輔助沒備；防護(hù)及傳送設(shè)備等。

　　X射線電視觀察法

　　X射線照相法既費(fèi)工時(shí)，又不經(jīng)濟(jì)，不適宜于批量生產(chǎn)的工廠。

　　然而，X射線熒光屏觀察法由于成象的光亮度差、靈敏度低，并且大多在熒光透視箱內(nèi)進(jìn)行，故也未廣泛采用。隨著光電微光技術(shù)的發(fā)展，微光象增強(qiáng)器和攝象管得到重視和廣泛應(yīng)用。

　　X射線電視觀察法的優(yōu)點(diǎn)是可以直接觀察副物體內(nèi)部在靜態(tài)和動(dòng)態(tài)下的情況，并能多次觀察；不需照相法那一套處理系統(tǒng)；可以流水作業(yè)，快速。

　　此法的不足之處是靈敏度比照相法低；圖象增強(qiáng)管接受輻射能量只達(dá)160kV左右，因而受到一定限制；由于泄露輻射的影響，檢測幾何形狀較為復(fù)雜的零件較為困難。