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X射線衍射儀的構造主要是哪4部分
點擊次數(shù):5839 發(fā)布時間:2021-05-26
X射線衍射儀是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀,它采用了理學的CBO交叉光學系統(tǒng),一臺儀器可以進行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測試。采用組合式結構,通過對各個單元的不同組合,可以進行各種測試。
可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。
可以分析的材料包括:金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料。
可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品。
X射線衍射儀使用注意事項:
(1)固體樣品表面>10×10mm,厚度在5μm以上,表面必須平整,可以用幾塊粘貼一起。
(2)對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴重的擇優(yōu)取向,衍射強度異常,需提供測試方向。
(3)對于測量金屬樣品的微觀應力(晶格畸變),測量殘余奧氏體,要求制備成金相樣品,并進行普通拋光或電解拋光,消除表面應變層。
(4)粉末樣品要求磨成320目的粒度,直徑約40微米,重量大于5g。
構造:
X射線衍射儀的形式多種多樣,用途各異,但其基本構成很相似,為衍射儀的基本構造原理圖,主要部件包括4部分。
(1)高穩(wěn)定度X射線源提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質(zhì)可改變X射線的波長,調(diào)節(jié)陽極電壓可控制X射線源的強度。
(2)樣品及樣品位置取向的調(diào)整機構系統(tǒng)樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
(3)射線檢測器檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統(tǒng)或計算機處理系統(tǒng)可以得到多晶衍射圖譜數(shù)據(jù)。
(4)衍射圖的處理分析系統(tǒng)現(xiàn)代衍射儀都附帶安裝有衍射圖處理分析軟件的計算機系統(tǒng),它們的特點是自動化和智能化。